晶圆片平整度检测 | 激光位移传感器行业应用 | 深视智能中国官方网站

晶圆片平整度检测
晶圆片平整度检测

晶圆片平整度检测

行业痛点与需求

晶圆片的平整度不足会导致封装过程的热应力发生变化,影响芯片的正常使用,因此对晶圆片表面光洁度的要求都非常高。采用深视智能高精度位移传感器SG5000系列,支持镜面反射型安装,可在晶圆片上多点取值判断平整度。

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优势&特点

01SG系列最高采样频率可达590kHz
02静态重复精度可达0.02μm
03光亮自动调节,适用各种检测环境